ICP-AES는 아르곤 플라즈마를 광원으로 이용해 금속원소의 발광을 측정하여 정량하는 분광 분석법이다. 장치는 시료도입부에서부터 고주파 전원부, 플라즈마 토치(광원부), 분광부, 검출·연산·기록부로 흐르며 플라즈마가 광원이자 원자화 수단 역할을 한다. 특정 금속의 간섭이나 휘발성 물질은 분석 방법 선택에 영향을 미치므로 기기 구성과 특성을 구분해 이해해야 한다.
출제기준 단원 「장치의 구성 및 특성」의 공개 문제 3개를 묻는 꼴별로 나누면 이렇습니다.
묻는 꼴
문제 수
무엇을 묻나
구성요소 포함·미포함 판단
1
ICP 장치에 포함되지 않는 부품을 골라 장치 유형을 구분하는 능력
조건·수치·기본특성 확인
1
아르곤 사용·토치 구조·플라즈마 특성 등 ICP의 핵심 조건을 확인하는 능력
광원·분광부 역할 대비
1
광원부(플라즈마 토치)와 분광부의 역할 차이를 설명하고 예외적 측정대상을 판별하는 능력
뜻
ICP-AES의 핵심은 고주파 전원부로 플라즈마를 유도결합(유도결합 방식)하여 매우 높은 온도의 이온화된 가스를 만들어 시료를 여기시키는 점이다. 플라즈마에는 주로 아르곤 가스를 사용하며, 아르곤은 플라즈마 가스이자 냉각가스로서 역할을 수행한다.
플라즈마 토치는 다중 층의 석영관 구조를 취하는 경우가 많아 각 관을 통해 냉각가스·플라즈마가스·시료가 흐르도록 설계된다. 플라즈마 속에서 시료는 원자화 및 여기 상태가 되어 고유 파장의 빛을 방출하고, 이 빛을 분광부가 파장별로 분리하면 검출부가 발광강도를 측정해 연산부가 농도를 계산하는 흐름으로 구성된다.
장치의 구성 항목으로는 시료도입부(네뷸라이저 등), 고주파 전원부, 광원부(플라즈마 토치), 분광부, 검출부 및 연산·기록부가 포함된다. 별도의 시료원자화부(예: 불꽃 또는 흑연로 같은 장치)는 플라즈마 방식의 ICP에는 포함되지 않는다.
분광부는 연속주사형 단원소 방식과 다원소 동시측정 방식으로 구분되며, 이 구분은 분광부의 측정 방식에 따른 차이일 뿐 광원부의 분류와 혼동해서는 안 된다. 또한 일부 금속류 가운데 수은처럼 휘발성이 큰 원소는 플라즈마 방식에서 손실이나 간섭이 발생할 수 있으므로 별도의 저온화 기체 원자흡수법 등 다른 방법으로 측정하는 규정이 존재한다.
예제
문제 유형 예시는 다음과 같다. 하나는 장치 구성 항목을 묻는 문제로, 시료원자화부가 포함되었는지 여부를 확인하면 된다. ICP에는 별도의 시료원자화부가 없으므로 이 부분을 포함한 선지는 오답으로 소거할 수 있다.
다른 예시는 ICP와 원자흡수분광법(AAS)의 원리 차이 판단 문제이다. ICP는 들뜬 원자가 바닥상태로 전이하며 방출하는 발광을 측정하는 반면, 흡수법은 바닥상태 원자가 특정 파장의 빛을 흡수하는 정도를 측정하므로 '발광 vs 흡수'로 구분하면 정답을 찾을 수 있다.
세 번째 예시는 금속류 측정 대상의 예외를 묻는 문제로, 수은은 휘발성이 커서 ICP로 측정하지 않고 저온화 기체 원자흡수법으로 별도 측정하는 점을 근거로 정답을 고른다.
대표 기출 3문항
ICP 발광광도 분석장치의 구성에 속하지 않는 것은?
고주파 전원부
시료원자화부
광원부
분광부
정답과 해설 보기
정답 ② · ICP(유도결합플라즈마) 발광광도 분석장치는 크게 시료를 도입하는 시료도입부, 플라즈마 토치를 발생시키는 고주파 전원부, 플라즈마를 유지하는 가스 공급부, 방출되는 빛을 파장별로 나누는 분광부, 그리고 나뉜 빛의 강도를 측정하는 검출부로 구성됩니다. 원자흡광광도계와 달리 독립적인 '시료원자화부'라는 명칭의 구성 요소는 존재하지 않습니다.